相位法光速测量仪_SGG-1

简要描述：SGG-1系列相位法光速测量仪适用于科研院所、高等院校物理实验室的光速测量。实验装置内调制被测信号的光强，测量光强调制波传播距离变化所引起的相应相位变化，Z终测定光速，并可以扩展测量有机玻璃、人造水晶、无水乙醇等介质的折射率。

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详情介绍

SGG-1系列相位法光速测量仪适用于科研院所、高等院校物理实验室的光速测量。实验装置内调制被测信号的光强，测量光强调制波传播距离变化所引起的相应相位变化，zui终测定光速，并可以扩展测量有机玻璃、人造水晶、无水乙醇等介质的折射率。

本系列实验仪器分为SGG-1A（基本型），SGG-1B（扩展型,）,SGG-1C（*型）三种不同配置，提供多种选择。

仪器优点

1 仪器安装拆卸简单，实验现象明显，步骤简洁。

2 可用来测量空气中的光速，测量精度较好。

3 可广泛应用与各种介质折射率测量

4 可灵活选配部分仪器，性价比高，方便用户

5 特别适合高校物理实验室

技术参数

光源半导体650nm激光器

反射间距 58mm

测量精度 ≤2%

调制频率 100MHz

分辨率 0.1mm

本系列实验仪器分为SGG-1A（基本型），SGG-1B（扩展型），SGG-1C（*型）三种不同配置，提供多种选择。

型号	SGG-1A 基本型	SGG-1B 扩展型	SGG-1C *型
配置	导轨、示波器、激光器、直角反射镜	导轨、示波器、激光器、直角反射镜、介质装置	导轨、示波器、激光器、直角反射镜、相位计、介质装置
简介	直接测量空气中的光速，能很好的满足实验要求。结构简单明了，操作方便。	增加介质测量装置。除了基本的光速测量功能外，可扩展测量介质折射率。	功能强大，包含SGG-1B的所有部件和功能，并增配相位计,更方便快速的测量光速和介质折射率