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自动椭圆偏振测厚仪_SGC-2

简要描述:椭圆偏振法测量的原理很早就已提出 ,相应的测试方法和设备也不断地被改进和创新 ,使得椭圆偏振法成为重要的测试手段 ,广泛地应用在光学、材料、生物、医学等各个领域〔1〕.其中测量薄膜材料的厚度、折射率和消光系数是椭圆偏振法Z基本、也是非常重要的应用之一

  • 产品型号:SGC-2
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2023-11-19
  • 访  问  量:1488
详情介绍

技术参数:
测量范围:1nm~4000nm;
测量zui小值:≤1nm;
镀膜折射率范围:1.300 ~ 10.000
入射角:40°~90° 误差≤0.05°
偏振器方位角读数范围:0°~180°
偏振器步进角:0.0375°/步
测量精度:在10nm处误差为±0.5nm
光学中心高度:75mm
允许样品尺寸直径:φ10mm~φ120mm
厚度:≤10mm

仪器特点:
仪器采用消光式椭圆偏振方式测量,具有精度高、自动控制等特点
光源采用氦氖激光,波长精度高
仪器采用USB接口与电脑连接,配套软件对采样数据具有多种处理方式,适用于
不同需要,同时软件有完整版及学生版两种版本,适于教学要求。

成套性:
主机,USB线,软件(需配计算机)

 

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