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简要描述:加速老化试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。微电脑温度控制器、LED数字显示,PID+SSR控制,白金电阻温度传感器(PT-100),解析度0.1℃,全自动安全保护装置。
一、加速老化试验箱主要技术参数:
二、加速老化试验箱结构及材料:
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