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X射线衍射仪

简要描述:DX系列X射线衍射仪设计精密,硬件、软件功能齐全,能灵活地适用于物质微观结构的各种测试、分析和研究。根据实际任务的需要,可以安装各种特殊功能的附件及相应控制和计算软件,组成具有特殊功能的衍射仪系统。

  • 产品型号:DX系列
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2023-11-18
  • 访  问  量:3149
详情介绍

DX系列X射线衍射仪设计精密,硬件、软件功能齐全,能灵活地适用于物质微观结构的各种测试、分析和研究。根据实际任务的需要,可以安装各种特殊功能的附件及相应控制和计算软件,组成具有特殊功能的衍射仪系统。
 

  ●硬件系统和软件系统的*结合,满足不同应用领域学者、科研者的需要;

  ●高精度的衍射角度测量系统,获取更准确的测量结果;

  ●高稳定性的X射线发生器控制系统,得到更稳定的重复测量精度;

  ●程序化操作、一体化结构设计,操作简便、仪器外型更美观。

 
  技术参数    
 
 
  可对单晶、多晶和非晶样品进行结构分析,如物相定性和定量分析(RIR定量、内部标准法、外部标准法、标准添加法),衍射谱图指标化及点阵参数测定,晶粒尺寸及点阵畸变测定,衍射图谱拟合修正晶体结构(WPF),残余应力测定,织构分析(ODF表示立体极图),结晶度、薄膜测定。
 
  衍射数据处理软件    
  对衍射数据进行常规处理:自动寻峰、手动寻峰、积分强度、Kα1、α2剥离、背景扣除、平滑、峰形放大、多重绘图、3D绘图、已知晶体理论结构,模拟出XRD衍射谱图等;
 

  拟合、多重峰分离

 
 
 
  通过 Pseudo-Voigt函数或是利用Pearson-VII函数对重叠峰拟合分解,确定单一衍射峰的参数,同时计算结晶度、晶粒尺寸、二类应力等。
 
 

  定性、定量分析:

 
 
 
  定性、定量分析确定样品物相组成后,使用Rietveld方法,计算出各种物相含量的百分比(无标标定量分析)。
 
 

  Rietveld晶体结构精修(WPF)

 
 
 
  全谱拟合定性分析、精确定量分析峰形分析研究晶体杂质、位错、晶界、点阵畸变等微观结构。
 
 

  绘图、打印输出

 
 
 
  数据处理软件与Windows相连接,对将要输出的图谱可以使用标注、放大、缩小等功能进行版面设计,也可以使用Windows操作进行剪切、粘贴。
 
 
  集成测量附件(选件)    
 
  广角测角仪一般是针对粉末样品、块状样品定性和定量分析而设计的。但随着材料研究的深入,越来越多的板材、块状材料及基体上的膜也要求用X射线衍射分析,集成测量附件就是为了满足这些需要而设计的。在广角测角仪上安装集成测量附件可以进行织构、应力、薄膜、定量分析等测试,每一种测试功能都有相应的计算软件。
 
 
 

  应用领域:

  ●碾轧板(铝板、铁板、铜板等)织构测量及评价(极图、反极图、ODF计算)
  ●
大分子化合物取向测量
  ●
陶瓷样品取向测量
  ●
薄膜样品晶体优先方位的评价
  ●
金属材料、陶瓷材料的残余应力测量(切削、敲击等加工产生 的应力)
  ●
金属材料上的氧化膜、氮化膜等残余应力测量,进行耐磨性、 切削性评价
  ●
多层膜材料的残余应力测量
  ●
金属、非金属基体上的多层膜、氧化膜、氮化膜分析
  ●
金属、非金属表面的电镀材料分析
  ●
有择优取向的粉末、大分子材料的定性、定量分析

  特点:

  ●极图测试装置(有反射法、透射法、γ摆动)
  ●应力测量附件(有侧倾法、并倾法)
  ●薄膜测量、Phi 扫描(样品表面旋转)
  ●zui大可测量样品尺寸:φ35X8mm
  ●样品前后自动调整zui小距为:5μm
  ●附件有定位结构与广角测角仪安装、柝卸十分方便
  ●DX系统软件自动控制各个方向动作,可以更好的进行粉末样品测试

 

  技术参数:

 
 
 

  α轴转动范围:-45°~90° zui小转动步距0.001°/步

  β轴转动范围:360°     zui小转动步距0.005°/步

  γ轴转动范围:±8mm     水平45°方向摆动

  Z轴转动范围:10mm      zui小移动步距0.005mm/步

  集成测量附件配置有高分辩率平行光光学系统,克服了聚集光学系统的缺点。平行光光学系统可以解决测量角度误差、衍射峰不对称、分辩率低等问题。尤其适用于材料残余应力、有机材料、薄膜、镀膜等样品分析。

 
 
 
  织构使多晶材料呈现各向异性,利用织构改善和提高材料的性能、充分发挥材料性能潜力是材料科学研究重要的工作之一。虽然检测材料织构的方法很多,但是zui广泛应用的还是X射线衍射技术。

集成测量附件应用于退火铝的织构测试。分别测量出111、200、220三张极图,使用计算软件绘制的反极图和立体极图(ODF图)
 
 
  集成测量附件应用于钢的残余应力测试,Psi角膜式,-45°~90°范围内取点对称测量2θ角峰位,计算正向、反向测试应力值,取平均值为应力测量结果。

 

 
  纤维样品测量装置(选件)    
 
  纤维样品测量附件安装在广角测角仪上。安装纤维样品或将纤维样品安装后拉伸,用透射法或是反射法测试晶体结构或是晶体结构的变化,适用于木材、纤维等样品的纤维组织测量。
 
 
  样品旋转(薄膜测量)附件(选件)  
 
  使用聚焦光学系统一般无法测量薄膜样品,但采用平行光光学系统和样品旋转附件、将θ轴固定、低角度入射、使用平晶单色器反射、保持样品内旋转的方法,除掉来自基体的强X射线,可以高效率地探测到薄膜衍射线。
 
 
 
  衍射仪通用附件(选件)  
 
 
     
单色器:
提高衍射峰与背景比例及对微相分析能力
  DCX-6换样器:
编程控制,一次安装多个样品,顺序进行测试,保存测量结果,提高仪器的运行效率。
 
     
陶瓷体X射线管
功率:2kW
焦点:1X10mm
标准结构、适用国内外X射线仪
  制样器:
用于粉体衍射样品制作
 
  Dwlc-2循环水冷却装置  
 

  该装置主要用于显微镜、电子探针、能谱仪、衍射仪、荧光光谱仪等实验室设备所需要的恒温水源。它运用压缩机制冷原理,采用封闭内循环水循环,自动控制制冷系统工作,对仪器需要冷却部件进行热交换,使仪器在*温度下稳定工作。

技术参数

  • 使用蒸馏水,对X射线管或需要冷却的部件进行冷却;
  • 分体式结构(冷凝器安装在室外),减少室内噪音;
  • 任意设定循环水工作温度(0-50°C);
  • 温度控制精度:设定温度±1°C;
  • 水流量:16L/min、24L/min;
  • 出水口压力:2.5kg/平方厘米、3.5kg/平方厘米、4.0kg/平方厘米;
  • 储水量:大于70L或按要求提供;
  • 工作电压:220V或380V;
  • 工作方式:本机开、关或遥控方式选择;
  • 有水流量检测、制冷剂压力检测及各种保护。
 
 
 
 

注:

实验室面积标注的尺寸仅供参考

 ● 单相电源220V×30A 2组 

 ● 接地线电阻不得大于4Ω

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